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隨著新型探測器的不斷發(fā)展,對讀出電子學(xué)的密集度和集成度要求越來越高。論文以傳統(tǒng)線性放電ADC為基礎(chǔ),針對多通道讀出芯片的高集成度要求,完成了12bit線性放電ADC模擬部分的ASIC設(shè)計,同時通過片外FPGA對其進行控制,兼顧測量和調(diào)試上的需求。
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