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平行光 MSU/MFU Series 用于檢測(cè)鏡面工件表面的劃痕、凹痕和污垢。 平行光是為檢測(cè)反光表面如 CD 和晶片上的細(xì)小裂紋、凹痕和污點(diǎn)而設(shè)計(jì)。 平行光光學(xué)單元成像實(shí)例 檢測(cè)鏡頭表面裂痕 鏡頭表面裂痕和缺口成 像。 使用光源: MSU-10 檢測(cè)引線框上的激光刻字 清晰的拍攝精密的激光刻 字。 使用光源: MSU-10 檢測(cè) CSP 上的彎曲和凹陷 彎曲和凹陷部分清晰地呈 現(xiàn)為黑色陰暗區(qū)域。 使用光源: MSU-10 檢測(cè)晶片上的激光刻字 以高清晰度和高對(duì)比度呈 現(xiàn)激光刻字。 使用光源: MSU-10 產(chǎn)品選型表 系列 型號(hào) 顏色 電源 選項(xiàng) MSU MSU-10 紅 12V/0.7W - MSU-10-SW/GR/BL 白 /綠/藍(lán) 12V/0.7W - MSU-30 紅 12V/0.7W MSU-30-SW/GR/BL 白 /綠/藍(lán) 12V/0.7W - MSU