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設(shè)計(jì)了一種轉(zhuǎn)塔式測試分選機(jī),用于極小型半導(dǎo)體器件的測試、打標(biāo)、分選和編帶。此設(shè)備處理速度快,檢測分選效率高,對半導(dǎo)體器件損傷小,可以大規(guī)模用于極小型半導(dǎo)體器件的測試分選。
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