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更新時(shí)間：2024.12.21
地基望遠(yuǎn)鏡主鏡支撐性能分析

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主鏡面型精度是地基大口徑望遠(yuǎn)鏡最關(guān)鍵的技術(shù)指標(biāo)之一。為了研究主鏡室以及主鏡底支撐和側(cè)支撐系統(tǒng)的重力變形造成的主鏡面型誤差,介紹了一地基光電望遠(yuǎn)鏡的主鏡室及詳細(xì)的主鏡支撐結(jié)構(gòu),借助于有限元法,建立了主鏡,主鏡室和支撐結(jié)構(gòu)的詳細(xì)有限元模型,分析計(jì)算了主鏡在支撐狀態(tài)下的鏡面變形情況,并通過(guò)ZYGO干涉儀進(jìn)行了面型檢測(cè)。計(jì)算結(jié)果和實(shí)測(cè)結(jié)果對(duì)比,說(shuō)明了主鏡室及其支撐結(jié)構(gòu)引入的主鏡面型誤差大小,同時(shí)也驗(yàn)證了有限元模型的正確性。

電鏡和光鏡的區(qū)別

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方法 優(yōu)點(diǎn) 缺點(diǎn) 適用范圍 SYBR Green I 方 法 適用性廣、靈敏、方便、 便宜 引物要求高，易出現(xiàn)非特異性帶不能 進(jìn)行多重定量 適合科研中對(duì)各種目的基因定量分析， 基因表達(dá)量的研究， 轉(zhuǎn)基因重組動(dòng)植物研究 TaqMan 方法 特異性高、重復(fù)性好、多 重定量 價(jià)格高，只適合特定目標(biāo) 病原體檢測(cè)，疾病耐藥基因研究 ,藥物療效考核，遺傳疾病 的診斷 電鏡和光鏡的區(qū)別 電鏡 光鏡 光源 電子束 可見(jiàn)光為光源 透鏡 電磁透鏡 玻璃凸透鏡 成像原理 在電鏡中，作用于被檢樣品的電子束經(jīng)電磁透鏡放大后達(dá)到熒光屏上成像或作用于 感光膠片成像。其電子濃淡的差別產(chǎn)生的機(jī)理是， 電子束作用于被檢樣品時(shí)，入射 電子與物質(zhì)的原子發(fā)生碰撞產(chǎn)生散射，由于樣品的不同部位對(duì)電子有不同的散射 度，故樣品電子像以濃淡呈現(xiàn) 而光鏡中樣品的物像以亮度差呈現(xiàn)，它是由被檢樣品的不同 結(jié)構(gòu)吸引光線多少的不同所造成的。 功能用途

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