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更新時(shí)間：2025.01.04
基于光譜橢偏術(shù)的Si球表面氧化層厚度測(cè)量

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為改善X射線晶體密度法測(cè)得的阿伏伽德羅常數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)不確定度,研制了一種基于光譜橢偏術(shù)和二維Si球掃描機(jī)構(gòu)的Si球表面氧化層厚度自動(dòng)掃描測(cè)量系統(tǒng),用于測(cè)量直徑約93.6 mm、質(zhì)量約1 kg的單晶Si球表面氧化層平均厚度。用本文系統(tǒng)對(duì)標(biāo)準(zhǔn)Si球表面進(jìn)行400點(diǎn)掃描測(cè)量實(shí)驗(yàn),得到氧化層厚度分布,且測(cè)得其平均厚度為6.00(22)nm。測(cè)量結(jié)果可將由氧化層導(dǎo)致的阿伏伽德羅常數(shù)測(cè)量相對(duì)不確定度降低至2.5×10-8。

基于均分配焦橢流線法的LED勻光管菲涅爾反射器設(shè)計(jì)

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基于邊光原理和橢流線理論提出了均分配焦橢流線的非成像光學(xué)設(shè)計(jì)方法,通過對(duì)LED光源的能量均分、橢流線虛實(shí)焦點(diǎn)的配對(duì)和光學(xué)仿真優(yōu)化三個(gè)規(guī)范步驟實(shí)現(xiàn)了應(yīng)用于LED勻光管均勻配光的菲涅爾反射器的光學(xué)設(shè)計(jì).分析了光源、反射器和投射目標(biāo)面三者之間的復(fù)雜關(guān)系,為L(zhǎng)ED照明設(shè)計(jì)的優(yōu)化提供了方便.仿真結(jié)果表明,LED勻光管管壁照度的均勻度超過0.93,有效降低了LED光源的眩光性.

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