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更新時間：2024.12.29
1電子元器件

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電子元器件來料檢驗標(biāo)準(zhǔn)

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文件編號 版本 頁次 1/6 制作部門 1.0目的 2.0適用范圍 3.0抽樣計劃 3.1 抽樣水準(zhǔn) （依《 IQC進(jìn)料檢驗流程規(guī)范》） 3.1.2 LOT 定義 :原則為同一型號 ,同一拉別 ,同一生產(chǎn)條件的產(chǎn)品. 3.2 允許水準(zhǔn)（ AQL）： 3.2.1 CR （致命不良）：0 3.2.2 MAJ （嚴(yán)重不良）： 0.4 4.0 檢驗條件： 4.3 目視距離：肉眼與被測物距離 30CM到45CM 2 ）光線斜照射在被測物，檢查者需垂直檢查； 3 ）光線不能直接反射到檢查者的眼睛。 5.0 外觀表面分級標(biāo)準(zhǔn) 5.1 一級表面 :在使用過程中能被用戶首先看到的部份，即產(chǎn)品正面 5.2 二級表面：用戶偶爾才看到的表面，此處的瑕疵不會對品質(zhì)造成危害，即產(chǎn)品側(cè)面以及背面； 修 編 寫 改 記 錄 4.1 位置：產(chǎn)品置放于檢

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