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更新時間:2025.01.04
一種測量光耦內(nèi)部結(jié)構(gòu)的方法

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本文根據(jù)光耦的原理,并結(jié)合X光下的透視圖,理論分析光耦內(nèi)部電氣間隙和爬電距離、絕緣穿透距離的可能存在路徑,進(jìn)而實(shí)驗中利用3只樣品即可快速找到最短路徑,此方法可為光耦的產(chǎn)品認(rèn)證及質(zhì)量篩選提供了有用的參考。

一種測量光耦內(nèi)部結(jié)構(gòu)的方法

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本文根據(jù)光耦的原理,并結(jié)合X光下的透視圖,理論分析光耦內(nèi)部電氣間隙和爬電距離、絕緣穿透距離的可能存在路徑,進(jìn)而實(shí)驗中利用3只樣品即可快速找到最短路徑,此方法可為光耦的產(chǎn)品認(rèn)證及質(zhì)量篩選提供了有用的參考。

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