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更新時(shí)間：2025.01.04
光學(xué)測量中光波大氣折射的精密修正

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準(zhǔn)確獲取光學(xué)測量中目標(biāo)的角度是實(shí)現(xiàn)高精度的靶場光學(xué)測量的關(guān)鍵之一,而大氣折射是影響最終計(jì)算目標(biāo)角度的重要因素,需采用適當(dāng)?shù)姆椒ㄓ?jì)算得到目標(biāo)的準(zhǔn)確角度值。本文以分層處理為出發(fā)點(diǎn),對(duì)影響大氣折射率的主要因素氣壓、氣溫、濕度分別采用氣壓分層模型,氣溫分層模型,濕度分層模型,以大氣折射率模型和接近靶場實(shí)際的大氣實(shí)測數(shù)據(jù)為基礎(chǔ),根據(jù)斯涅耳折射定律和大氣光路方程,建立了一種基于分層處理的光波大氣折射精密修正方法。利用實(shí)際的星體觀測實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)對(duì)文中方法和常用的其它方法進(jìn)行了比較,將處理得到的數(shù)據(jù)與星體真值進(jìn)行比較;另外利用實(shí)際的靶場測量數(shù)據(jù)進(jìn)行了對(duì)比處理,兩種實(shí)驗(yàn)結(jié)果都能夠說明本文中的分層處理方法可以實(shí)現(xiàn)更高精度的修正,可以最終提高光測設(shè)備的測量精度。

特快速暫態(tài)過電壓光學(xué)測量系統(tǒng)的設(shè)計(jì)??

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提出一種應(yīng)用Pockles效應(yīng)的特快速暫態(tài)過電壓（VFTO）光學(xué)測量方法。通過光學(xué)敏感頭感應(yīng)一次VFTO信號(hào),并將電壓的變化信息通過光纜傳輸至電氣單元進(jìn)行解析,最終得到實(shí)際電壓。該傳感器采用光學(xué)測量方式,具有可靠性高、抗干擾能力強(qiáng)、測量精度高、測量頻帶寬的優(yōu)點(diǎn)。設(shè)計(jì)制作的新型光學(xué)傳感器的低頻截止頻率低于10 Hz,高頻截止頻率高于1 GHz。對(duì)隔離開關(guān)操作所引發(fā)的VFTO進(jìn)行了測量試驗(yàn),通過同步觸發(fā)裝置同時(shí)采集兩側(cè)安裝的光學(xué)傳感頭和電容式傳感頭信號(hào),對(duì)比驗(yàn)證了VFTO光學(xué)測量方法的可行性。試驗(yàn)結(jié)果表明：光學(xué)測量方式與電容式測量方式均反映了刀閘分合閘的過程,2種方式的分合閘持續(xù)時(shí)間測量結(jié)果吻合較好;電容式測量方式測得的VFTO振蕩幅度明顯小于光學(xué)方式的測量結(jié)果,光學(xué)測量方式在高頻段性能要優(yōu)于電容式測量方式。

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