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更新時(shí)間:2024.12.29
BurnIn(老化)插座接觸電阻的在板測(cè)試

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技術(shù)背景Burn In板子又叫老化板子。由于芯片需要在高溫(125℃以上)下,進(jìn)行加電的老化測(cè)試,當(dāng)Burn In板子在生產(chǎn)線上使用一段時(shí)間后,就會(huì)出現(xiàn)一些問(wèn)題。1 Burn In Qcheck不穩(wěn)定Qcheck是做Burn In的第一個(gè)流程,用來(lái)判斷哪些插座里有芯片,

接觸電阻的分析與測(cè)量

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通過(guò)分析接觸電阻產(chǎn)生的原因及其影響因素來(lái)認(rèn)識(shí)準(zhǔn)確測(cè)量接觸電阻的意義。從理論出發(fā)介紹接觸電阻的測(cè)量方法,介紹了四線端子法的測(cè)量原理及優(yōu)勢(shì)。

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