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實驗一 銅網(wǎng)的清洗與制備支持膜 一、目的要求 熟悉清洗銅網(wǎng)和制備支持膜的操作技術。 二、實驗原理 超薄切片均撈在載網(wǎng)上, 才能在電鏡下觀察,載網(wǎng)通常為銅制的, 故稱銅網(wǎng)(為特殊需要,還有金或銀的) 。銅網(wǎng)直徑 3mm,網(wǎng)孔的數(shù) 目由多種規(guī)格,若網(wǎng)孔的數(shù)目越多,則網(wǎng)孔的面積越小,對切片的支 持越穩(wěn)定,但可觀察的有效面積就小。為了提高有效觀察面積(即使 用大網(wǎng)孔銅網(wǎng),通常用的是 200目銅網(wǎng))。又不影響支持切片的穩(wěn)定 性,需在銅網(wǎng)上覆蓋一層薄膜。 另外,顆粒標本,如病毒、細菌在電鏡下檢查時, 也需要在膜上, 還有,為了矯正象散等也須用膜,此膜叫支持膜。 支持膜的化學穩(wěn)定性直接影響支持切片的穩(wěn)定性, 膜的透明度影 響清晰度,膜的機械穩(wěn)定性影響對比度,所以,支持膜須用化學穩(wěn)定 性好,高倍下看不到結構、堅固、具有高電子透明度的材料。那么, 合適的材料種類有限。 通常使用的支持膜有碳、 火棉膠或福爾蒙
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透射電鏡在鋼鐵中的應用(部分) 鋼中典型組織的薄膜觀察 1. 珠光體。 2. 上貝氏體。 3. 下貝氏體。 4. 板條馬氏體。 5. 片狀馬氏體。 亞結構的觀察 1. 雙相不銹鋼 雙相不銹鋼經(jīng)固溶處理后為鐵素體,奧氏體兩相,晶體內(nèi)部存在著許多缺陷,如位錯、 層錯等。在這塊樣品上可以看到位錯、層錯、等厚條紋、等傾條紋等許多襯度特征,以及電 子衍射圖樣(單晶、多晶)和菊池線等。分述如下: (1)位錯 晶體中位錯的存在,使局部區(qū)域晶格發(fā) 生崎變。當某一組晶面與布拉格條件的偏離 參量為 S。時位錯線引起晶面畸變造成額外 的附加偏差 S′,從而造成其襯度,在明場 象中,位錯象為暗線(圖 5—26);在暗場象 中,位錯象為亮線。位錯象與其在晶體中的 實際位置有所偏離,而且有一定的寬度,隨 著位錯的性質、它在晶體中位置及取向等的 不同,位錯象出現(xiàn)線狀、點狀和鋸齒狀等特 征。 (2)層錯 圖 5-26 材
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